产品名称: 

巧克力（块状巧克力） 

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质构仪；TA.XTC质构仪；巧克力；巧克力硬度

试验仪器：

上海保圣质构仪TA.XTC          

试验图像:

实验叙述:

A样品硬度小，峰值少，而B样品硬度大，峰值多，这是由于A样品在刺穿的过程中，未断裂，且巧克力内层结构明显较外层软，所有在第一个峰值后突然减小；而B样品在刺穿过程中均断裂，所以有多个峰值出现。显然在保证样品结构不改变（不断裂）的情况下，数据重复性更好。

数据分析:

分析曲线最大正峰值

样品结果:

2种样品，进行6次重复的分析结果(+/-SD.)（不合适数据需剔除）